Unser Testequipment

Testequipment Mittels modernster Messmittel ist SEMITRON in der Lage, elektronische Bauteile nach Herstellerangaben (Datenblatt) oder Kundenspezifikationen sowie auf Funktion zu prüfen.
Alle Test- und Prüfprogramme, auch für kundenspezifische IC’s (ASIC), werden von den SEMITRON Ingenieuren entwickelt.

Mit Systemen zum Temperieren der Bauteile im Bereich von -70°C bis +260°C kann auf erweiterte Temperaturbereiche getestet werden, das sogenannte Screening. Auszug aus dem Portfolio häufig geprüfter Bauteile:
• Dioden, MOSFETS, Transistoren
• Voltage Regulators, Amplifiers, Spannungsreferenzen, Operationsverstärker
• Programmierbare Bauteile (Flash, EEPROM, EPROM, UV EPROM; Speicherkarten)
• Kondensatoren, Widerstände, Quarze, Oszillatoren
• Sensoren (Druck, Temperatur) entsprechend den CECC Vorschriften behandelt.